Diagnóstico activo de faltas en sistemas automatizados de manufactura: modelados mediante redes de Petri interpretadas

Autores/as

  • Josué-Antonio Prieto-Olivares Tecnológico Nacional de México Campus Aguascalientes. Av. Adolfo López Mateos Ote. 1801 - 20256 Bona Gens, Aguascalientes (México) Autor/a
  • Elvia Ruiz-Beltrán Tecnológico Nacional de México Campus Aguascalientes. Av. Adolfo López Mateos Ote. 1801 - 20256 Bona Gens, Aguascalientes (México) Autor/a
  • Carlos-Renato Vázquez-Topete Tecnológico Nacional de México Campus Aguascalientes. Av. Adolfo López Mateos Ote. 1801 - 20256 Bona Gens, Aguascalientes (México) Autor/a
  • Jorge-Luis Orozco-Mora Tecnológico Nacional de México Campus Aguascalientes. Av. Adolfo López Mateos Ote. 1801 - 20256 Bona Gens, Aguascalientes (México) Autor/a

DOI:

https://doi.org/10.52152/D11367

Palabras clave:

Redes de Petri Interpretadas, Diagnóstico Activo, Factory IO, diagnosticabilidad, diagnóstico de faltas

Resumen

El presente artículo aborda el tema de Diagnóstico Activo en Sistemas de Eventos Discretos (SED) representado como Redes de Petri Interpretadas (RPI), que han sido utilizadas para modelar un Sistema Automatizado de Manufactura (AMS) donde mediante técnicas de control supervisor de Moody se ha impuesto la propiedad de la diagnosticabilidad. Además, se implementa un esquema de diagnóstico de faltas mediante residuos en un AMS controlado por un PLC marca Mitsubishi, que es monitoreado por un sistema embebido capaz de medir la corriente en los actuadores, con el fin de compartir información al diagnosticador mediante el protocolo de comunicación Modbus para incrementar su fiabilidad en el dictamen.

Publicado

2025-05-05

Número

Sección

Articles